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软硬协同 智检未来 | 大恒图像诚邀您参加上海视觉展!

发布者:大恒图像 发布时间:2026-03-17 分享:

中国(上海)机器视觉展暨机器视觉技术及工业应用研讨会(Vision China Shanghai)即将在3月25日,于上海新国际博览中心启幕,为更好服务新老客户,此次展会我们将携16套系统全面展现我们的技术实力和应用案例,从硬件产品到软件产品,立志为客户提供因需制宜的一站式服务。大恒图像展位号:W5.5428

精工硬件 · 实力呈现

火星2.46亿高分辨率CoaXPress2.0 接口相机

产品特点

MARS-24600-12X2M-TF相机采用Sony IMX811 245.76MP逐行曝光CMOS传感器,像元尺寸2.81μm。通过CoaXPress2.0 接口进行图像数据传输,4通道最大传输速率可达60Gbit/s,相机帧率10.54fps。相机配置TEC制冷系统和散热风扇,能够有效减少热噪声,生成优质图像,信噪比44.2db。相机光学接口M72。具有外形坚固,性能出色,高分辨率、高清晰度、高传输带宽、低噪声等特点。

应用领域

屏幕显示、高精度测量、半导体、印刷等

图像效果

我们会展出全品类硬件产品,覆盖多场景。欢迎您来现场解锁,携带被测物试测。

智慧软件 · 深度赋能

1.基于HALCON的深度学习半导体引线框架缺陷检测

基于MVTec HALCON的深度学习缺陷检测解决方案,搭配独立Deep Learning Tool,专注半导体引线框架高精度外观检测。系统可精准识别压痕、划伤、脏污、变形、缺料等各类微小缺陷,支持异常检测、目标检测与分割等多种深度学习任务,无需大量不良样本即可快速训练。系统具备高检出率、低误检率、部署灵活等优势,可稳定适配半导体精密产线严苛检测需求,有效提升产品良率与生产效率。

2.HALCON Deep 3D Matching

Deep 3D Matching 是一种基于深度学习的3D匹配功能,能够使用2D图像快速且稳健地进行3D对象检测和位姿估计。系统可在复杂光照、工件遮挡、无序堆叠等场景下稳定完成目标定位,具备强鲁棒性与高定位精度。相比传统3D匹配算法,识别速度更快、适配性更广及方案成本更低,可广泛应用于机器人无序抓取、精密装配、自动上下料等工业自动化场景,为高端智能制造提供稳定可靠的3D视觉支撑。

3.基于HALCON DeepOCR的IC芯片字符识别

Deep OCR 是一种基于深度学习的光学字符识别方法。依托先进算法实现高鲁棒性工业字符读取,系统可高效识别低对比度、扭曲变形、模糊磨损、复杂背景下的印刷、喷码、刻印字符与编码,无需复杂调参即可稳定运行。Deep OCR的结果同时包含带有置信度值的字符候选列表,这可以进一步提高识别结果,能广泛适用于半导体、3C、电子制造等行业的自动读码、信息核验与追溯场景,大幅提升产线字符识别稳定性与通用性。

4.大恒图像PALLAS Vision 视觉软件平台

大恒图像自主研发的PALLAS Vision工业视觉软件平台,采用可视化流程设计,支持无代码快速搭建检测方案,集成定位、测量、缺陷检测、字符识别等丰富算法模块,兼容大恒图像全系列工业相机及主流设备协议。系统操作简洁、运行稳定、扩展性强,可快速对接产线与自动化设备。广泛应用于半导体、消费电子、精密制造等领域,提供一站式国产化智能视觉检测解决方案。


如果您对文中出现的产品感兴趣,诚邀您莅临展位,深入沟通需求。大恒图像展位号:W5.5428。届时,我们将与您一同探讨机器视觉在各个领域的机遇与挑战。

同时也欢迎您拨打大恒图像客户服务热线:400 999 7595进行更详细的咨询!


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